花崗石平臺檢測手段有三種：
         一種是借助精度為0.5μm的電子水平儀，用位移法可檢測花崗石平臺的直線度，用次方法可檢測花崗石平臺的平面度，將檢測的結果經過算法換算，可得到花崗石平臺的直線度和平面度的具體數值；其特點是精度不太高，但測量數據可靠，無“0”點漂移問題，特別適合于在線測量與檢測花崗石平臺。
         另一種測量花崗石平臺直線度的方法可以通過精度為0.1μm的電容測微儀用位移法測量，其表頭的示值即為花崗石平臺的直線度的誤差值；在此測量中，由于電感測微儀自身的“0”點漂移較嚴重，需經過長達24h的穩定后，其數值才可信，故使得花崗石平臺加工與測量間的銜接時間增長。
         更高精度花崗石平臺的加工有更高精度的檢測手段，目前常采用HP5528A或HP5529A動態校準儀，它的顯示精度為1nm，可檢測平面度、垂直度、直線度、時基即振動、角位移測量、對角測量等等。動態校準儀的檢測精度特別高，但由于其復雜的光學系統和復雜的調試程序，尤其是光具返回光束的光強和保證在80以上，否則光束將被擋住，這對花崗石平臺調試者來說調試較困難，調試時間較長，調試方法不容易掌握。同時其要求花崗石平臺的測量環境較高。